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PROBE 30B低頻磁場探頭(配合輻射分析儀) 輻射測量儀

更新時間:2024-11-18

訪問量:2210

簡要描述:
PROBE 30B低頻磁場探頭(配合輻射分析儀),PROBE 30B頻率測量范圍為5Hz-400KHz,覆蓋了工業和醫療科技(ISM)行業的應用。
品牌其他品牌測量范圍-
測量對象-靈敏度-
產地國產測量物質其他
儀器類型便攜儀器種類計量/劑量率儀

                                                 PROBE 30B低頻磁場探頭(配合輻射分析儀)


PROBE 30B低頻磁場探頭(配合輻射分析儀)


產品描述

概述

*微納德Microrad低頻磁場探頭PROBE 30B,是一款三維磁場探頭,對應三維(x&y&z)

空間的分量可單獨地在探頭輸出,配合微納德Microrad 寬頻電磁輻射分析儀主機

測量各向同性的磁場強度。

*低頻磁場探頭PROBE 30B頻率測量范圍為5Hz-400KHz,覆蓋了工業和醫療科技(ISM)

行業的應用。

*微納德寬頻主機搭配低頻磁場探頭PROBE 30B能夠實現對公共電磁環境控制限值

(GB 8702-2014)以及工作場所有害因素職業接觸限值(GBZ 2.2-2007)的低頻磁場進行檢測

與分析。


典型應用

*供電廠、高壓輸電線、變電站

*鐵路和地面運輸系統電力設備的測量

*工業爐、焊接、回火和干燥設備

*透熱設備和醫療設備(如NMR/MRI)

*CEI EN 50500《對人體暴露于鐵路電子電氣設備環境測量標準》

*CEI EN 62233《對人體暴露于家用及類似用途電器電磁場測量標準》


產品規格

頻率范圍

5Hz – 400KHz

頻率響應類型

平坦

測量范圍

0.3 µT – 16 mT

動態范圍

>94 dB

傳感器類型

電磁線圈

方向性

各向同性

頻率響應的平坦度

±0.5 dB (50 Hz – 50 kHz) @ 30 µT

±1 dB (50 kHz – 400kHz) @ 30 µT

線性度

±0.5 dB (1 µT – 1mT)

各項同性的響應

±0.5 dB ( @50Hz )

頻率校準

5-16.7-50-150-500-1500-5000-15000-
50000-100000-400000 (Hz)

建議校準周期

24個月

工作溫度

0°C – 50°C

尺寸

365 x 120 (mm)

重量

135g

產地

意大利



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