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品牌 | 何亦 | 產品英文名稱 | NaI-Calibration |
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測量物質 | 液體 | 儀器類型 | 實驗室 |
靈敏度 | ·積分控制精度可以人為調節,軟件默認值為3% | 測量范圍 | 刻度的能量范圍45keV到7MeV |
測量類型 | 無源效率刻度 | 探測器類型 | 高純鍺 |
儀器種類 | 能譜儀 | 供貨周期 | 5天 |
NaI閃爍探測器無源效率刻度軟件
一、NaI閃爍探測器無源效率刻度軟件產品簡介
NaI閃爍探測器無源效率刻度軟件刻度方法主要有兩種,一是相對測量方法,二是無源效率刻度方法。在退役核設施放射性測量、放射性工作場所測量、核事故應急中污染物放射性快速測量、人體器官放射性測量、生物樣品放射性快速測量、放射性廢物非破壞性測量等領域,很難采用借助標準源的相對測量方法獲得效率刻度因子。
無源效率刻度軟件NaI-Calibration是用于NaI γ射線探測器無源效率刻度的新產品,它采用數值方法計算γ光子的輸運過程,在此基礎上得到效率刻度因子,幾何和材料建模能力強大,計算精度高,速度快,界面簡單,使用方便。由于是采用理論計算方法,因此,對于復雜幾何形狀和成分的放射源都快速地獲得效率刻度曲線。NaI-Calibration克服了相對測量方法的缺點,同時避免了標準源的使用和管理,較大地拓展了NaI探測器的適用范圍,提高了NaI探測器的定量分析能力。
NaI-Calibration是在解決兩個關鍵技術的基礎上研制成功的NaI無源效率刻度軟件,一是光子在探測器中的能量沉積計算,二是探測器中產光效率和光收集效率的表征方法。光子在探測器中的能量沉積部分具備一般的無源效率刻度軟件的優點,即可視化建模功能,對于任意組分材料和任意屏蔽物,精密化計算能量沉積功能;探測器表征方面通過實驗測量得到點源在不同位置的能量沉積,然后反演出探測器的產光效率和收集效率隨能量變化曲線。NaI-Calibration經過了不同形狀、不同活度的體源效率測量的考核。
二、NaI閃爍探測器無源效率刻度軟件性能
· 采用功能強大的CSG建模,實現對任意形狀的體源的三維可視化快速建模;
· 放射源到探測器的距離為0到無窮遠;
· 刻度的能量范圍45keV到7MeV;
· 積分控制精度人為調節,軟件默認值為3%;
· 效率刻度曲線計算時間:對于形狀對稱的體源(如環境樣品源),計算時間小于20秒;
· 對于形狀非對稱的體源,計算時間一般少于10分鐘;
· 軟件輸出為*.TXT格式文件;
· 中、英文界面。
三、本公司的服務
定制軟件界面;
定制報告格式;
免費培訓和技術咨詢。
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